关键词:
GIS
绝缘缺陷
工频叠加冲击
闪络路径
放电特性
摘要:
金属封闭组合电器设备(GIS)常遭受雷电、开关操作暂态等过电压侵袭,实际承受工频叠加冲击电压,一旦存在GIS绝缘件沿面异物缺陷,放电概率会显著增加,严重威胁设备安全运行。本文搭建工频叠加冲击电压实验平台,研究GIS绝缘件沿面异物闪络电压和放电路径统计规律,对比分析叠加相位、异物尺寸的影响规律,揭示工频叠加冲击电压下沿面闪络机理。结果表明,不同叠加相位和极性下,闪络路径会呈现“竖直发展”和“绕开”两种典型模式,进而显著影响叠加放电电压U50%。当反极性叠加时,闪络路径沿绝缘子电场中心线方向发展,放电出射角度θ ≤ 25°,表明缺陷产生空间电荷促进了叠加电压下的放电发展,此时,U50%较雷电冲击击穿电压Us下降程度很大,闪络电压变化率k高达27.8%;同极性叠加时,闪络路径会“绕开”缺陷前方区域,放电出射角度θ明显增大,在40°-90°之间,且分散性较大,此时,缺陷产生空间电荷阻碍了叠加电压下的放电发展,U50%降幅很小。此外,微粒曲率亦显著影响闪络路径和放电电压,尖锐微粒导致的k更大。在ACφ=180°/+LI时,随着微粒曲率从0.15mm增加到0.5mm,k值由15.8%减小至11.1%。本研究为揭示工频叠加冲击下GIS沿面闪络机理、提高GIS绝缘可靠性提供了一定参考和依据。