关键词:
时间测量
时间数字转换器
延迟链
延时控制
数字时间转换器
摘要:
随着集成电路(Integrated Circuits,IC)领域技术的进步,在科学研究与工程应用中利用芯片对时间信号进行测量和对延时进行控制的要求越来越高,其中很多场景下需要达到皮秒级别的精度。本课题来源于某上市公司的委托,主要研究内容包含高精度时间测量与高精度快速可控延时两个部分,这两部分的功能在本质上分别是时间数字转换器(Time-to-digital Converter,TDC)和数字时间转换器(Digital-to-time Converter,DTC),它们实现了时间信号与数字信号间的转换,研究成果将应用于国产模拟IC测试机上。
时间测量和快速可控延时系统主要基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)实现,具体型号为Xilinx ZYNQ Ultra Scale+ZCU104评估板。其中,时间测量部分采用时钟计数器与双链插值抽头延迟链(Tap Delay Line,TDL)结合的两步式时间测量结构,分析并解决了实际应用中遇到的粗细计数器失配、抽头延时非线性等问题,实现了核心电路工作在400MHz运行频率下的8通道时间测量功能,通道分辨率在1.97ps至2.06ps之间,测量范围达到0-10.74s。在单通道情况下测量精度最小14.08ps,最大27.44ps,多通道配合测量时测量精度达到最小1.84ps,最大25.39ps,其中多通道最小精度值比单通道时小是因为其消除了待测信号源本身抖动。
快速可控延时部分受时间测量部分原理启发,首次提出了一种两步式延时结构,并利用高精度TDC测量细延时抽头以解决非线性问题,还提出了一种通道对齐方法以解决延时通道的固有延时差异问题,最终实现了核心电路工作在400MHz频率下的16通道快速可控延时系统,通道分辨率达到1.70ps至2.44ps,延时设置反应时间在5ns以内,延时范围为0-5ns且具备较大延拓潜力。在单通道情况下延时精度达到最小8.27ps,最大25.26ps,多通道配合测量时测量精度达到最小12.93ps,最大38.46ps。由于延时系统的输出必然包含信号源本身抖动,而不能像时间测量系统一样可得到消除待测信号源本身抖动后的精度,故此处多通道精度稍差于单通道精度。
本文所述的时间测量和快速可控延时系统均达到了委托方给出的设计指标,在同一块FPGA上多次测试均能达到同等性能,且基于同等级的Xilinx FPGA理论上可复现同等的性能。