关键词:
UHF RFID
标签纱
法向模螺旋偶极子天线
结构
性能
摘要:
柔性混合电子学是一种将传统硬质微小电子元件与柔性电路结合的新方法。作为柔性混合电子器件中的重要成员,一维纱线基超高频射频识别(ultra-high frequency radio frequency identification,UHF RFID)标签有好的可隐蔽性,易于集成到纺织品,是实现纺织品全生命周期智能化管理和新兴无线纺织传感器的有效途径。其中,新兴法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱是一种包缠结构的混合电子纱,主要由芯层(载纱)和外层(芯片与法向模螺旋偶极子天线的互连体)构成,具有轴向尺寸小、可拉伸等特点。法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱的射频性能取决于载纱的介电性能、天线的增益和天线与芯片间阻抗匹配程度。天线的增益和阻抗是其几何结构和构成材料特征的函数。此外,应用场景会显著影响天线增益的稳定性。因此,设计法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱的关键是天线与芯片间阻抗匹配的调控方法和应用场景敏感因素及其作用机理。
已有研究针对自谐振的法向模螺旋偶极子天线,构建了谐振频率与螺旋几何参数的物理关系,其不需要考虑芯片阻抗对阻抗匹配和谐振频率的影响。同时,现有物理关系主要适用于结构均匀的法向模螺旋偶极子天线,而芯层载纱存在固有的结构不匀,且包缠纱工艺参数存在波动,导致包缠共形的法向模螺旋偶极子天线存在几何结构不匀的现象,使现有物理关系不适用于法向模螺旋偶极子型UHF RIFD标签纱的天线设计。其次,已有阻抗测试方法主要面向硬质基底天线,法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱是一种新兴的柔性电子器件,缺乏测试评价技术,特别是准确测量其天线阻抗的技术。此外,已有研究主要关注标签纱的最远读取距离,对标签纱的适用场景研究不足。法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱的射频性能具有方向性,且其易受使用环境干扰。适用场景不明确导致现有标签纱的读取可靠性和稳定性差。鉴于在法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱开发过程中存在的前述理论和技术问题,本课题将首先设计测试法向模螺旋偶极子天线阻抗的专用设备和操作程序,为验证阻抗匹配调控理论和评价天线电气性能提供技术支撑;然后,从理想(天线结构均匀)到实际(天线结构不匀),采用阻抗匹配理论,引入芯片阻抗,构建天线谐振频率与几何结构参数的物理关系;最后,应用构建的物理关系,设计开发具有期望天线谐振频率的法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱,评价分析标签纱的适用场景。
本课题的具体研究内容和结果如下:
(1)针对天线变形和差分夹具与天线间不良接触引起的阻抗测试结果再现性和准确性差的问题,改进差分夹具的触点和控制平台,实验确定了影响阻抗测试结果的基本因素及作用规律,制定并验证了实现天线阻抗准确、重复测量的规范化方法。
现有天线阻抗测试方法主要针对易于与测试夹具形成可靠稳定接触的硬质基底天线,法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱中天线具有柔软易变形性,在测试过程中其易发生形变以及与测试夹具接触不良,导致天线阻抗测试结果的稳定性和再现性下降。采用三维微调平台,根据经典的差分夹具结构,自制天线阻抗的专用测试设备;根据实际实验操作过程,通过系列控制因素试验,对可能产生误差的因素(差分夹具的改进方法、天线的弯曲、阻抗的测试位置与实际馈电点间距离、天线与差分夹具间的压强(常通过差分夹具的下降距离调节))进行系统讨论。在此基础上,课题提出了一种规范化的操作程序。研究结果表明,改进后差分夹具的特性阻抗接近于理想阻抗(50Ω),其不会对阻抗测试结果的准确性产生影响。由于结构的改变,天线的弯曲,尤其是弯曲成环会对天线的阻抗产生显著性影响。当天线与差分夹具间已实现良好接触时,继续增加两者间压强对阻抗测试结果无显著性影响。测得的谐振频率随测试位置和实际馈电点间距离增加而减小。阻抗测试结果的影响因素主次为:天线的弯曲>阻抗的测试位置与实际馈电点间距离>天线与差分夹具间压强(差分夹具的下降距离)。此外,通过实测证明,采用本课题提出的规范化测试程序,可实现天线阻抗的稳定和再现测试。
(2)以法向模螺旋偶极子天线的自谐振条件建立的构性关系不适合标签纱的天线设计。应用等效阻抗理论和共轭匹配理论,构建了结构均匀的法向模螺旋偶极子天线的谐振频率与几何结构参数的物理关系。
现有的频率与天线几何结构参数的物理关系基于自谐振理论,即天线电抗等于零,不符合法向模螺旋偶极子型UHF RFID标签纱中天线阻抗与芯片阻抗间共轭匹配的基本要求。本课题首先采用等效阻抗理论,建立天线阻抗的等效简化模型,参数化表征等效模型的阻抗,获得了法向模螺旋偶极子天线的阻抗。为了提高阻抗表达式的准确性,通过引入电抗参数Z,补偿因几何结构形态改变导致的电抗偏差。然后基于共轭匹配理论,即在谐振频率处芯片阻抗和天线阻抗间的共轭匹配关系,建立天线