关键词:
氧化石墨烯薄膜
金属离子选择性
低温合成氧化石墨烯
离子筛分机制
离子与氧化石墨烯的相互作用
摘要:
实现金属离子的分离、提纯和回收在环境、能源等领域有着重要的现实意义和科学价值。氧化石墨烯(GO)薄膜具有良好的层状通道结构,其层间距与金属离子直径接近,且制备方法简单,在金属离子筛分上应用前景广阔。然而,GO含氧官能团的亲水性等影响使得GO薄膜在水溶液浸泡时层间距会溶胀,导致GO薄膜离子筛分效率较低,因此迫切需要对GO薄膜进行有效改性。目前用于制备GO薄膜的GO通常由Hummers法或改进Hummers法合成,其氧化过程通常在35℃下进行并经过80-90℃的短时间保温过程。该方法得到的GO氧化度高,分散性、稳定性良好,因此较为常用。但研究发现,由于羧基含量高,由常规GO制备得到的GO薄膜带有较多褶皱,而羧基含量更少的GO形成的GO薄膜结构更为平整。良好的层间通道结构对GO薄膜离子选择性至关重要,但有关GO的氧化合成条件对GO薄膜离子选择性性能的影响尚未见研究报道。另外,前期研究发现,单独渗透、混合渗透时,K+/Mg2+选择率存在较大差异,但有关该现象的原因和区分也尚未见研究报道。
为得到高效金属离子选择性的GO薄膜,本文采用20℃的低温氧化条件制备氧化度、羧基含量更低的低温GO,并结合热处理调控策略,首次制备了低温氧化石墨烯(低温rGO)薄膜。与由氧化温度相对较高的常规GO制备得到的高温氧化石墨烯(高温rGO)薄膜相比,低温rGO薄膜K+/Mg2+选择率大大提高。而由于褶皱的存在,高温rGO薄膜内部会形成空穴,使得相近层间距下其K+/Mg2+选择率远低于低温rGO薄膜,并且增加有限。此外,本文得到如下结果:
1.本文通过XRD、XPS、热重等表征分析方法研究了薄膜层间结构、组成的变化,并由离子阻力势能差、层间结构的变化论证了低温rGO薄膜离子筛分的机理。研究发现,保温过程发生的C-O键断裂和C-C键生成是造成低温rGO薄膜不同保温时间下性质和性能不同的主要原因。随着保温时间的增加,低温rGO薄膜层间距减小,层间距溶胀得到抑制,但同时,层间通道结构有序性降低,两者是一对需要平衡的关系。最终,在140℃、40-50 min保温时间的条件下,低温rGO薄膜(水中)溶胀层间距达到1.06-1.26 nm,并兼具良好的层间通道结构有序性,薄膜K+/Mg2+选择性达到最优的352-408。根据得到的离子筛分机理,该状态下水中层间距接近1.2 nm临界值,接近K+、Mg2+阻力势能差的最大值,因此能获得最优的K+/Mg2+选择率(408)。而当保温时间继续增加直至层间结构严重坍塌,K+/Mg2+选择率严重下降。
2.本文以不同离子种类、不同渗透方式进行离子渗透测试,研究了离子的渗透行为和影响,并通过XRD研究了薄膜在单独渗透、混合渗透时的层间结构差异,探究了两者K+/Mg2+选择率差异的原因。研究发现,K+对薄膜层间通道结构起到稳定作用,并进一步阻挡Mg2+的渗透,因此Mg2+与K+混合时,薄膜层间通道能够恢复对Mg2+的阻挡能力,K+/Mg2+选择率大大提高。与金属阳离子相比,阴离子与GO的相互作用较弱,对层间通道结构影响较小,因此薄膜对阴离子表现出更好的尺寸筛分效应。随着渗透时间的延长,离子不断在薄膜内部积累,薄膜内部的层间通道不断被扩大,K+/Mg2+选择率严重下降。与连续渗透相比,周期重复渗透避免了离子的积累,K+/Mg2+选择率在长时间渗透下仍然保持稳定。